Анализатор распространения луча BeamSquared® SP204S CMOS M²

Анализатор распространения луча BeamSquared® SP204S CMOS M²

Анализатор распространения луча BeamSquared® SP204S CMOS M² — это высокоточное устройство, предназначенное для измерения и анализа распределения светового потока. Оно оснащено CMOS-сенсором M², который обеспечивает высокую чёткость и точность измерений.

С помощью анализатора BeamSquared® SP204S можно эффективно контролировать качество освещения в различных областях, таких как архитектура, дизайн интерьера, фотография и видеосъёмка. Устройство позволяет точно определить зоны с неравномерным распределением света, что помогает оптимизировать освещение и достичь желаемых результатов.

Основные характеристики анализатора:

• высокая точность измерений;


• простота в использовании;


• возможность сохранения результатов измерений;


• совместимость с различными программными обеспечениями.

Если вы ищете надёжное и точное устройство для анализа распределения света, анализатор распространения луча BeamSquared® SP204S CMOS M² — идеальный выбор для вас.

Анализатор распространения BeamSquared® SP204S M2 — это компактный и полностью автоматизированный инструмент для измерения характеристик распространения непрерывных и импульсных лазерных систем с длиной волны от 266 до 1100 нм. Наш более длинный оптический ряд и запатентованная калибровка Ultracal™ делают BeamSquared самым точным продуктом на рынке и соответствует стандарту ISO 11146. Его эксплуатационная надежность и надежность обеспечивают непрерывное использование в промышленности, науке, исследованиях и разработках.

• SP204S CMOS-камера с разрешением 2472 x 2064 охватывает длину волны от 266 до 1100 нм
• Автоматическое измерение ISO за 1 минуту
• Непрерывное использование в производственной линии
• Непревзойденная точность благодаря запатентованной калибровке
• Подходит для большинства типов лазеров, представленных на рынке.
• Поддержка лазеров с большой длиной Рэлея
• Усовершенствованная технология CMOS с улучшенной чувствительностью и разрешением.
• Улучшенное измерение M2 в длинах волн ближнего ИК-диапазона.
Посмотреть все функции