BeamMic® CCD/CMOS начального уровня 190–1100 нмПрофилометр лазерного луча
Популярный
Характеристики
| Активная область7.06mm x 5.3mm | Динамический диапазон72 dB | КоммуникацияUSB 3.0 |
| Программное обеспечениеBeamMic | Размер луча34.5 µm - 5.3 mm | Совместимые источники светаCW, Pulsed |
| Соответствие CEYes | Соответствие UKCAYes | Соответствие требованиям RoHS КитаяYes |
Описание
Техническое описание BeamMic (219 КБ, PDF)
Чертеж SP932U (29,4 КБ, PDF)
BeamMic® CCD/CMOS начального уровня 190–1100 нмПрофилометр лазерного луча
CMOS с глобальным затвором USB 3.0, камера высокого разрешения с повышенной точностью, особенно на популярных длинах волн NIR и Nd:YAG, с новым алгоритмом BeamGage «коррекция размытия». Компактный квадратный дизайн для повышения универсальности установки
- Разрешение 2048 x 1536 пикселей с шагом пикселя 3,45 мкм.
- 24 кадра в секунду в полном разрешении
- Новый алгоритм «коррекции размытия» в ближнем ИК-диапазоне и отсутствие размытия.
- Программное обеспечение BeamMic® включено в комплект поставки. Посмотреть все функции
Техническое описание BeamMic (219 КБ, PDF)
Чертеж SP932U (29,4 КБ, PDF)
Технические характеристики BeamMic® CCD/CMOS начального уровня 190–1100 нмПрофилометр лазерного луча
Характеристики
| Активная область | 7.06mm x 5.3mm |
|---|---|
| Динамический диапазон | 72 dB |
| Коммуникация | USB 3.0 |
| Программное обеспечение | BeamMic |
| Размер луча | 34.5 µm - 5.3 mm |
| Совместимые источники света | CW, Pulsed |
| Соответствие CE | Yes |
| Соответствие UKCA | Yes |
| Соответствие требованиям RoHS Китая | Yes |
| Спектральный диапазон | 190-1100 nm |
| Тип датчика | Silicon CMOS |
| Частота кадров при полном разрешении | 24 fps |
| Элементы | 2048 x 1536 |
| Эффективный шаг пикселя | 3.45 μm |
