Меню
Корзина 0
    Поддержка

    Режим работы: с 9:00 до 18:00 Выходные: СБ - ВС

    Поддержка в мессенджере
    Каталог
      Поиск
      Корзина 0
      Корзина
      Ваша корзина пуста!
      Расширители пучка Оптические изоляторы free-space Вращатели Фарадея и Фарадеевские зеркала Ячейки Поккельса и электрооптические затворы Драйверы Акустооптические модуляторы с волоконным вводом/выводом Акустооптические модуляторы (free space) Модуляторы добротности Драйверы и электроника для акустооптики Линзы для лазера Зеркала Призмы Светоделители Элементы с покрытиями Нелинейные кристаллы Двулучепреломляющие кристаллы Акусто- и электро- и магнитооптические кристаллы Сцинтилляционные кристаллы Лазерные кристаллы
      Товар дня
      Актуаторы и микровинты Аксессуары Базы и крепления оптомеханики Виброопоры и изоляторы Держатели оптики Каркасные системы Контроллеры Моторизированные позиционеры Оптические компоненты Оптические плиты и столешницы Оптические столы и рабочие места Опто-механика Расширители пучка и объективы Ручные позиционеры
      Товар дня
      Анализаторы излучения Визуализация Волоконная оптика Источники излучения Оптика Оптические системы Оптомеханика Системы позиционирования
      Товар дня
      Контрольно-измерительное оборудование Оптика
      Товар дня
      SP920G GigE 1624x1224 ПЗС-матрица, 190–1100 нм, профилометр лазерного луча SP920s USB 1624x1224 ПЗС-матрица, 190–1100 нм, профилометр лазерного луча Анализ лазерного луча Анализаторы распространения луча NanoModeScan M² Измерение светодиодов Измерители мощности и энергии Измерители профиля лазерного луча BeamMic™ начального уровня Инфракрасная оптика Лазерная оптика Лазерное измерение Профилометры лазерного пучка Светодиодное измерение
      Товар дня
      Лазерные диоды Nichia Лазерные диоды Osram
      Товар дня
      Товар дня
      Товар дня
      Фотоэлектронные умножители Модули фотоумножителей Комплектующие для фотоэлектронных умножителей
      Товар дня
      Фотодиодные матрицы Инфракрасные детекторы Пироэлектрические ИК датчики Инфракрасные излучатели
      Товар дня
      Товар дня
      Каталог Поиск Корзина Корзина 0 Сравнение

      CEA1350 - Штатив микроскопов Cerna с рукояткой для установки системы освещения отраженным светом, высота: 350 мм, Thorlabs

      CEA1350 - Штатив микроскопов Cerna с рукояткой для установки системы освещения отраженным светом, высота: 350 мм, Thorlabs
      CEA1350 - Штатив микроскопов Cerna с рукояткой для установки системы освещения отраженным светом, высота: 350 мм, Thorlabs 0 0.00р.
      Быстрый заказ
      CEA1350 - Штатив микроскопов Cerna с рукояткой для установки системы освещения отраженным светом, высота: 350 мм, Thorlabs
      CEA1350 - Штатив микроскопов Cerna с рукояткой для установки системы освещения отраженным светом, высота: 350 мм, Thorlabs
      Популярный
      На складе Код товара: CEA1350
      Thorlabs Производитель

      0.00р.

      Быстрый заказ
      Характеристики
      АртикулCEA1350
      Все характеристики
      Поделиться
      Описание

      CEA1350 - Штатив микроскопов Cerna с рукояткой для установки системы освещения отраженным светом, высота: 350 мм, Thorlabs

      CEA1350-AutoCADPDF.pdf 160.5 Кб
      Технические характеристики CEA1350 - Штатив микроскопов Cerna с рукояткой для установки системы освещения отраженным светом, высота: 350 мм, Thorlabs
      Характеристики
      Артикул CEA1350
      Широкий ассортимент и подбор аналогов
      Широкий ассортимент и подбор аналогов
      Поставка продукции от производителя
      Поставка продукции от производителя
      Мы гарантируем самые оптимальные цены на товары
      Мы гарантируем самые оптимальные цены на товары
      Скидки на различные группы товаров
      Скидки на различные группы товаров
      Выберите обязательные опции
      Быстрый заказ