Меню
Корзина 0
    Поддержка

    Режим работы: с 9:00 до 18:00 Выходные: СБ - ВС

    Поддержка в мессенджере
    Каталог
      Поиск
      Корзина 0
      Корзина
      Ваша корзина пуста!
      Расширители пучка Оптические изоляторы free-space Вращатели Фарадея и Фарадеевские зеркала Ячейки Поккельса и электрооптические затворы Драйверы Акустооптические модуляторы с волоконным вводом/выводом Акустооптические модуляторы (free space) Модуляторы добротности Драйверы и электроника для акустооптики Линзы для лазера Зеркала Призмы Светоделители Элементы с покрытиями Нелинейные кристаллы Двулучепреломляющие кристаллы Акусто- и электро- и магнитооптические кристаллы Сцинтилляционные кристаллы Лазерные кристаллы
      Товар дня
      Актуаторы и микровинты Аксессуары Базы и крепления оптомеханики Виброопоры и изоляторы Держатели оптики Каркасные системы Контроллеры Моторизированные позиционеры Оптические компоненты Оптические плиты и столешницы Оптические столы и рабочие места Опто-механика Расширители пучка и объективы Ручные позиционеры
      Товар дня
      Анализаторы излучения Визуализация Волоконная оптика Источники излучения Оптика Оптические системы Оптомеханика Системы позиционирования
      Товар дня
      Контрольно-измерительное оборудование Оптика
      Товар дня
      SP920G GigE 1624x1224 ПЗС-матрица, 190–1100 нм, профилометр лазерного луча SP920s USB 1624x1224 ПЗС-матрица, 190–1100 нм, профилометр лазерного луча Анализ лазерного луча Анализаторы распространения луча NanoModeScan M² Измерение светодиодов Измерители мощности и энергии Измерители профиля лазерного луча BeamMic™ начального уровня Инфракрасная оптика Лазерная оптика Лазерное измерение Профилометры лазерного пучка Светодиодное измерение
      Товар дня
      Лазерные диоды Nichia Лазерные диоды Osram
      Товар дня
      Товар дня
      Товар дня
      Фотоэлектронные умножители Модули фотоумножителей Комплектующие для фотоэлектронных умножителей
      Товар дня
      Фотодиодные матрицы Инфракрасные детекторы Пироэлектрические ИК датчики Инфракрасные излучатели
      Товар дня
      Товар дня
      Каталог Поиск Корзина Корзина 0 Сравнение

      M2MS - Система для измерения параметра M², рабочий диапазон: 400 - 2700 нм, Thorlabs

      M2MS - Система для измерения параметра M², рабочий диапазон: 400 - 2700 нм, Thorlabs
      M2MS - Система для измерения параметра M², рабочий диапазон: 400 - 2700 нм, Thorlabs 0 0.00р.
      Быстрый заказ
      M2MS - Система для измерения параметра M², рабочий диапазон: 400 - 2700 нм, Thorlabs
      M2MS - Система для измерения параметра M², рабочий диапазон: 400 - 2700 нм, Thorlabs
      Популярный
      На складе Код товара: M2MS
      Thorlabs Производитель

      0.00р.

      Быстрый заказ
      Характеристики
      АртикулM2MS
      Все характеристики
      Поделиться
      Описание

      M2MS - Система для измерения параметра M², рабочий диапазон: 400 - 2700 нм, Thorlabs

      M2MS-AutoCADPDF.pdf 2.4 MБ
      M2MS-QuickStartGuide.pdf 3.8 MБ
      M2MS-BP209Manual.pdf 16.1 MБ
      Технические характеристики M2MS - Система для измерения параметра M², рабочий диапазон: 400 - 2700 нм, Thorlabs
      Характеристики
      Артикул M2MS
      Широкий ассортимент и подбор аналогов
      Широкий ассортимент и подбор аналогов
      Поставка продукции от производителя
      Поставка продукции от производителя
      Мы гарантируем самые оптимальные цены на товары
      Мы гарантируем самые оптимальные цены на товары
      Скидки на различные группы товаров
      Скидки на различные группы товаров
      Выберите обязательные опции
      Быстрый заказ