НаноСкан 2с Си/9/5
Популярный
Характеристики
Диапазон мощности10 nW to 10 W | КоммуникацияUSB 2.0 | наименование товараNanoScan 2s Si/9/5 |
Размер диафрагмы9 mm | Размер луча20 µm to 6 mm | Размер разреза5 µm |
Размер сканирующей головки83 mm | Соответствие CEYes | Соответствие UKCAYes |
Описание
Техническое описание профилометров со сканирующей щелью (505,4 КБ, PDF)
Распространенные причины повреждения сканирующих головок NanoScan (3,3 МБ, PDF)
НаноСкан 2с Си/9/5
Эта сканирующая щелевая система профилирования NanoScan точно захватывает и анализирует длину волны от 190 до 1100 нм с помощью кремниевого детектора. Ее характеристики: размер щели, подходящий для большинства пучков; скорость захвата данных, приближающаяся к первому времени; дополнительная возможность повышения производительности; работа в режиме непрерывного преобразования или килогерцевом импульсном режиме. Благодаря этим характеристикам она идеально подходит для выполнения комплексного анализа лазеров УФ-, видимого и ближнего ИК-диапазона.
- Размеры пучка: от 20 мкм до приближения. 6 мм
- Уровень мощности: от приближения. 10 нВт до приблиз. 10 Вт
- Интерфейс USB 2.0
- В комплект поставки программного обеспечения входит программное обеспечение NanoScan или профессиональная версия. Посмотреть все функции
Техническое описание профилометров со сканирующей щелью (505,4 КБ, PDF)
Распространенные причины повреждения сканирующих головок NanoScan (3,3 МБ, PDF)
Технические характеристики НаноСкан 2с Си/9/5
Характеристики
Диапазон мощности | 10 nW to 10 W |
---|---|
Коммуникация | USB 2.0 |
наименование товара | NanoScan 2s Si/9/5 |
Размер диафрагмы | 9 mm |
Размер луча | 20 µm to 6 mm |
Размер разреза | 5 µm |
Размер сканирующей головки | 83 mm |
Соответствие CE | Yes |
Соответствие UKCA | Yes |
Соответствие требованиям RoHS Китая | Yes |
Спектральный диапазон | 190 to 1100 nm |
Тип датчика | Silicon Photodetector |