-
-
-
-
-
-
-
-
На складе
Код товара: Z5YQB5 Ophir - BeamCheck™ Система профилирования излучений для аддитивного производства
0.00р.
-
На складе
Код товара: B69VO8 Ophir - BeamMic® CCD/CMOS начального уровня 1440–1605 нмПрофилометр лазерного луча
0.00р.
-
На складе
Код товара: O9GW0L Ophir - BeamMic® CCD/CMOS начального уровня 1440–1605 нмПрофилометр лазерного луча
0.00р.
-
На складе
Код товара: 4AKO7Y Ophir - BeamMic® CCD/CMOS начального уровня 190–1100 нмПрофилометр лазерного луча
0.00р.
-
На складе
Код товара: SSIV5U Ophir - BeamMic® CCD/CMOS начального уровня 190–1100 нмПрофилометр лазерного луча
0.00р.
-
На складе
Код товара: 2C152R Ophir - BeamMic® CCD/CMOS начального уровня 190–1100 нмПрофилометр лазерного луча
0.00р.
-
На складе
Код товара: V7AVBZ Ophir - BeamMic® CMOS начального уровня 1440–1605 нмПрофилометр лазерного луча
0.00р.
-