Ophir - Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, NanoScan Pro

Профилометр сканирующего щелевого луча NanoScan Pro — это высокоточный прибор для измерения микрорельефа поверхности. Он оснащён щелевым лучом диаметром 3,5 мм и шириной щели 1,8 мкм, что позволяет получать детализированные данные о поверхности в диапазоне длин волн 190–1100 нм.

Прибор подключается к компьютеру через интерфейс USB 2.0, что обеспечивает быструю передачу данных и удобное управление. NanoScan Pro идеально подходит для научных исследований, разработки новых материалов и контроля качества продукции.

Основные характеристики:

• диаметр щелевого луча: 3,5 мм;


• ширина щели: 1,8 мкм;


• диапазон длин волн: 190–1100 нм;


• интерфейс подключения: USB 2.0.

  Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, NanoScan Pro

  Сканирующая щелевая система профилирования NS2s-Si/3.5/1.8-PRO (номер по каталогу PH00464) с апертурой 3,5 мм точно улавливает и анализирует длины волн от 190 до 1100 нм с помощью кремниевого детектора. Он имеет размер щели 1,8 мкм, подходящий для небольших лучей, скорость сбора данных практически в реальном времени, дополнительную функцию измерения мощности и работает в непрерывном или импульсном режимах, что делает его идеальным для комплексного лазерного анализа. Программное обеспечение NanoScan Pro включено.