Ophir - Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

Профилометр сканирующего щелевого луча — это высокоточное устройство с диаметром луча 3,5 мм и щелью 1,8 мкм. Он способен работать в диапазоне длин волн от 190 до 1100 нм и оснащён интерфейсом USB 2.0. Соответствует стандарту NanoScan.

Этот профилометр идеально подходит для проведения точных измерений в различных областях науки и техники. Благодаря своим компактным размерам и удобству использования, он станет незаменимым помощником в вашей работе.

Основные характеристики:

• диаметр луча: 3,5 мм;


• щель: 1,8 мкм;


• диапазон длин волн: 190–1100 нм;


• интерфейс: USB 2.0;


• соответствие стандарту: NanoScan.

  Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

  Сканирующая щелевая система профилирования NS2s-SI/3.5/1.8-STD (номер по каталогу PH00456) с апертурой 3,5 мм точно улавливает и анализирует длины волн от 190 до 1100 нм с помощью кремниевого детектора. Он имеет размер щели 1,8 мкм, подходящий для небольших лучей, скорость сбора данных практически в реальном времени, дополнительную функцию измерения мощности и работает в непрерывном или импульсном режимах, что делает его идеальным для комплексного лазерного анализа. В комплект входит программное обеспечение NanoScan Standard.