Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

Наш профилометр — это высокоточный инструмент для измерения микрорельефа поверхности с помощью сканирующего щелевого луча. Он оснащён объективом диаметром 9 мм и щелью 5 мкм, что позволяет получать чёткие и детализированные изображения поверхности в диапазоне от 190 до 1100 нм.

Устройство поддерживает интерфейс USB 2.0 и соответствует стандарту NanoScan, что обеспечивает быструю передачу данных и совместимость с различными системами.

Этот профилометр идеально подходит для научных исследований, разработки новых материалов и контроля качества продукции в различных отраслях промышленности.

Ключевые характеристики:

• диаметр объектива: 9 мм;


• ширина щели: 5 мкм;


• диапазон измерений: 190–1100 нм;


• интерфейс: USB 2.0;


• стандарт: NanoScan.

  Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

  Сканирующая щелевая система профилирования NS2s-Si/9/5-STD (арт. PH00457) с апертурой 9 мм точно улавливает и анализирует длины волн от 190 до 1100 нм с помощью кремниевого детектора. Он имеет размер щели 5,0 мкм, подходящий для небольших лучей, скорость сбора данных практически в реальном времени, дополнительную функцию измерения мощности и работает в непрерывном или импульсном режимах, что делает его идеальным для комплексного лазерного анализа. В комплект входит программное обеспечение NanoScan Standard.