Нерегулируемый аттенюатор в комплекте с ультрафиолетовыми нейтральными фильтрами.
блок с резьбовым креплением типа S-mount для нашей универсальной камеры ПЗС и пироэлектрических каме..
Интерфейс:
C-mount
Материал:
Inconel
Порог урона:
100 W/cm² CW, 20 mJ/cm² for 10ns pulses, no distortion
Спектральный диапазон:
190-380 nm
Чистая диафрагма:
Ø20 mm
Оптическая триггерная камера
Оптическая триггерная камера представляет собой оптический, который улавливает малую долю передачи и..
Минимальная ширина импульса:
1 µs
Соответствие CE:
Yes
Соответствие UKCA:
Yes
Соответствие требованиям RoHS Китая:
Yes
Оптическая триггерная камера
Оптическая триггерная камера представляет собой оптический, который улавливает малую долю передачи и..
Минимальная ширина импульса:
1 µs
Соответствие CE:
Yes
Соответствие UKCA:
Yes
Соответствие требованиям RoHS Китая:
Yes
Ослабление лазерного пучка с использованием наращиваемых частично отражающих зеркал
Наращиваемые оптические делители обеспечивают максимальное использование модульного принципа и кратч..
Интерфейс:
C-mount
Материал:
UV-Grade Fused Silica
Отражение:
≤6% (BB), ≤1% (NIR)
Порог урона:
>5 J/cm² for 10ns pulses
Спектральный диапазон:
190-2000 nm
Призмы для ослабления лазерной пучки Ослабление лазерной пучки с использованием одно- и двухпризменных аттенюаторов
Призменное устройство для формирования измерительного пучка на передней поверхности (PFSA) представл..
Интерфейс:
C-mount
Качество поверхности:
20-10 Scratch-Dig
Материал:
UV-Grade Fused Silica
Отражение:
P: 0.64-0.88%, S: 8.01-9.40%
Порог урона:
100 MW/cm2
Спектральный диапазон:
200-2500 nm
Пропускающие фильтры лазерного излучения с четвертью волнами 355 нм
Также предусмотрены специальные фильтры для подавления постороннего воздействия при включении параме..
Передача инфекции:
60% @ 355 nm, 0 @ 532 nm, 5E-6 @ 1064 nm
Плоскостность:
2 waves in the visible
Порог урона:
50 W/cm², 0.6 J/cm²
Расстояние между фильтрами:
8 mm
Спектральный диапазон:
355 nm
Толщина фильтра:
4 mm
Профилометр ближнего поля на базе камеры ПЗС и микрообъектива
Профилометр ближнего поля используется для анализа маленьких пучков, когда изображение увеличивается..
Размер луча:
50 µm and smaller
Спектральный диапазон:
190-1100 nm
Профилометр ближнего поля на базе камеры ПЗС и микрообъектива
Профилометр ближнего поля используется для анализа маленьких пучков, когда изображение увеличивается..
Размер луча:
50 µm and smaller
Спектральный диапазон:
190-1100 nm
Расширитель очень маленьких пучков для 4-кратного увеличения изображения.
Расширители пучка предназначены для работы с камерами с резьбовым креплением типа S-mount, обеспечив..
Длина сборки:
50 mm
Интерфейс:
C-mount
Коэффициент расширения:
4X
Спектральный диапазон:
340-1800 nm
Регулировочные шайбы для линз-объективов типа S-mount
Регулировочные шайбы для линз-объективов, предназначенные для корректировки фокусного расстояния объ..
Регулируемый аттенюатор ATP-K Ослабление лазерного пучка с использованием наблюдающих фильтров.
Ослабляет ваш лазер без призрачных отражений, полос и утечек света. Регулируемые клинья с регулировк..
Интерфейс:
C-mount
Порог урона:
100 mW or 5 J for 1 mm beam diameter
Спектральный диапазон:
360-2500+ nm
Чистая диафрагма:
15 mm
Система анализа и измерения мощности мощного лазерного луча BeamPeek™
Система BeamPeek™ позволяет в режиме реального времени анализировать профиль луча, включая мониторин..
Диапазон мощности:
10-1000 W
Калибровка измерителя мощности:
NIST traceable calibration ±3%
Минимальный размер пятна:
34.5 µm
наименование товара:
BeamPeek
Профилирование луча:
ISO 11146 Measurements
Соответствие CE:
Yes
Система анализа и измерения мощности мощного лазерного луча BeamPeek™
Система BeamPeek™ позволяет в режиме реального времени анализировать профиль луча, включая мониторин..
Диапазон мощности:
10-1000 W
Калибровка измерителя мощности:
NIST traceable calibration ±3%
Минимальный размер пятна:
34.5 µm
наименование товара:
BeamPeek
Профилирование луча:
ISO 11146 Measurements
Соответствие CE:
Yes
Система анализа и измерения мощности мощного лазерного луча BeamPeek™
Система BeamPeek™ позволяет в режиме реального времени анализировать профиль луча, включая мониторин..
Диапазон мощности:
10-1000 W
Калибровка измерителя мощности:
NIST traceable calibration ±3%
Минимальный размер пятна:
34.5 µm
наименование товара:
BeamPeek
Профилирование луча:
ISO 11146 Measurements
Соответствие CE:
Yes
Система анализа и измерения мощности мощного лазерного луча BeamPeek™
Система BeamPeek™ позволяет в режиме реального времени анализировать профиль луча, включая мониторин..
Диапазон мощности:
10-1000 W
Калибровка измерителя мощности:
NIST traceable calibration ±3%
Минимальный размер пятна:
34.5 µm
наименование товара:
BeamPeek
Профилирование луча:
ISO 11146 Measurements
Соответствие CE:
Yes