Размер луча50 µm and smaller | Спектральный диапазон190-1100 nm |
Профилометр ближнего поля на базе камеры ПЗС и микрообъектива
Профилометр ближнего поля на базе камеры ПЗС и микрообъектива — это высокоточное устройство для измерения параметров поверхности объектов в ближнем поле. Оно использует камеру ПЗС и микрообъектив для получения детальных изображений поверхности и анализа её характеристик.
Этот профилометр идеально подходит для научных исследований, разработки новых материалов, контроля качества продукции и других областей, где требуется высокая точность измерений. Он обеспечивает чёткие и точные данные о поверхности, позволяя проводить детальный анализ и оптимизацию производственных процессов.
Основные преимущества профилометра:
- высокая точность измерений;
- детальные изображения поверхности;
- широкий спектр применения в различных отраслях.
Приобретите профилометр ближнего поля на базе камеры ПЗС и микрообъектива и повысьте эффективность своей работы!
Профилометр ближнего поля используется для анализа маленьких пучков, когда изображение увеличивается линзой микрообъектива и проецируется на ПЗС-матрицу. Профилирование ближнего поля используется при анализе волокон и волноводов, с учетом характеристик линз, а также в других областях, где требуется анализ маленьких пучков размером 50 мкм и меньше.
- Насадка для микроскопа для камеры с байонетом C
- Изображение талии сфокусированного лазерного луча
- Объективы микроскопа с увеличением 10, 20, 40 и 60 раз. Посмотреть все функции
Чертеж профилографа ближнего поля (209,2 КБ, PDF)
Размер луча | 50 µm and smaller |
---|---|
Спектральный диапазон | 190-1100 nm |



