Профилометр луча для анализа ближнего поля

Профилометр луча для анализа ближнего поля

Профилометр луча для анализа ближнего поля — это высокоточный прибор, предназначенный для измерения параметров ближнего поля. Он позволяет получить детальную информацию о распределении интенсивности и фазы электромагнитного поля в пространстве.

С помощью профилометра луча можно:

• анализировать характеристики антенн и радиочастотных компонентов;


• контролировать качество сборки и настройки электронных устройств;


• проводить исследования в области радиотехники и связи.

Наш профилометр луча отличается высокой точностью измерений, простотой в использовании и надёжностью. Он станет незаменимым помощником для специалистов в области радиоэлектроники и связи.

Приобретите профилометр луча для анализа ближнего поля и обеспечьте себе возможность проведения точных и надёжных измерений! Профилировщик ближнего поля с креплением C (NFP) — это насадка для микроскопа для камеры с креплением C. Его можно использовать для изображения и увеличения талии сфокусированного лазерного луча. Адаптер NFP необходимо заказывать с одним или несколькими объективами микроскопа. В комплект адаптера входят ND-фильтры для ослабления входного лазерного луча.

• Насадка для микроскопа для камеры с байонетом C
• Изображение талии сфокусированного лазерного луча
• Объективы микроскопа с увеличением 10, 20, 40 и 60 раз.
Посмотреть все функции