Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
0.00р.
Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
Популярный
Характеристики
| Диапазон мощности10 nW - 10 W | КоммуникацияUSB 2.0 | Программное обеспечениеNanoScan Standard |
| Размер диафрагмы3.5 mm | Размер луча7 µm - 2.3 mm | Размер разреза1.8 µm |
| Размер сканирующей головки83 mm | Совместимые источники светаCW, Pulsed >25 kHz | Соответствие CEYes |
Описание
Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
Сканирующая щелевая система профилирования NS2s-SI/3.5/1.8-STD (номер по каталогу PH00456) с апертурой 3,5 мм точно улавливает и анализирует длины волн от 190 до 1100 нм с помощью кремниевого детектора. Он имеет размер щели 1,8 мкм, подходящий для небольших лучей, скорость сбора данных практически в реальном времени, дополнительную функцию измерения мощности и работает в непрерывном или импульсном режимах, что делает его идеальным для комплексного лазерного анализа. В комплект входит программное обеспечение NanoScan Standard.
Технические характеристики Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
Характеристики
| Диапазон мощности | 10 nW - 10 W |
|---|---|
| Коммуникация | USB 2.0 |
| Программное обеспечение | NanoScan Standard |
| Размер диафрагмы | 3.5 mm |
| Размер луча | 7 µm - 2.3 mm |
| Размер разреза | 1.8 µm |
| Размер сканирующей головки | 83 mm |
| Совместимые источники света | CW, Pulsed >25 kHz |
| Соответствие CE | Yes |
| Соответствие UKCA | Yes |
| Соответствие требованиям RoHS Китая | Yes |
| Спектральный диапазон | 190-1100 nm |
| Тип датчика | Silicon |
