Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, NanoScan Pro
0.00р.
Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, NanoScan Pro
Популярный
Характеристики
| Диапазон мощности10 nW - 10 W | КоммуникацияUSB 2.0 | Программное обеспечениеNanoScan Professional |
| Размер диафрагмы3.5 mm | Размер луча7 µm - 2.3 mm | Размер разреза1.8 µm |
| Размер сканирующей головки83 mm | Совместимые источники светаCW, Pulsed >25 kHz | Соответствие CEYes |
Описание
Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, NanoScan Pro
Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, NanoScan Pro
Сканирующая щелевая система профилирования NS2s-Ge/3.5/1.8-PRO (номер по каталогу PH00467) с апертурой 3,5 мм точно улавливает и анализирует длины волн от 700 до 1800 нм с помощью германиевого детектора. Он имеет размер щели 1,8 мкм, подходящий для небольших лучей, скорость сбора данных практически в реальном времени, дополнительную функцию измерения мощности и работает в непрерывном или импульсном режимах, что делает его идеальным для комплексного лазерного анализа. Программное обеспечение NanoScan Pro включено.
Технические характеристики Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, NanoScan Pro
Характеристики
| Диапазон мощности | 10 nW - 10 W |
|---|---|
| Коммуникация | USB 2.0 |
| Программное обеспечение | NanoScan Professional |
| Размер диафрагмы | 3.5 mm |
| Размер луча | 7 µm - 2.3 mm |
| Размер разреза | 1.8 µm |
| Размер сканирующей головки | 83 mm |
| Совместимые источники света | CW, Pulsed >25 kHz |
| Соответствие CE | Yes |
| Соответствие UKCA | Yes |
| Соответствие требованиям RoHS Китая | Yes |
| Спектральный диапазон | 700-1800 nm |
| Тип датчика | Germanium |
