Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

Наш профилометр — это высокоточное устройство для измерения микрорельефа поверхности. Он оснащён сканирующим щелевым лучом с диаметром 3,5 мм и щелью 1,8 мкм, что позволяет получать детализированные данные о поверхности в диапазоне от 700 до 1800 нм. Устройство поддерживает интерфейс USB 2.0 и соответствует стандарту NanoScan, обеспечивая надёжное и быстрое подключение к компьютеру.

Этот профилометр идеально подходит для научных исследований, разработки новых материалов и контроля качества продукции в различных отраслях промышленности. Он поможет вам получить точные измерения и улучшить производственные процессы.

Приобретите наш профилометр и обеспечьте себе преимущество в точных измерениях поверхностей!

Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

Сканирующая щелевая система профилирования NS2s-Ge/3.5/1.8-STD (номер по каталогу PH00459) с апертурой 3,5 мм точно улавливает и анализирует длины волн от 700 до 1800 нм с помощью германиевого детектора. Он имеет размер щели 1,8 мкм, подходящий для небольших лучей, скорость сбора данных практически в реальном времени, дополнительную функцию измерения мощности и работает в непрерывном или импульсном режимах, что делает его идеальным для комплексного лазерного анализа. В комплект входит программное обеспечение NanoScan Standard.