Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
0.00р.
Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
Популярный
Характеристики
| Диапазон мощности10 nW - 10 W | КоммуникацияUSB 2.0 | Программное обеспечениеNanoScan Standard |
| Размер диафрагмы9 mm | Размер луча20 µm - 6 mm | Размер разреза5 µm |
| Размер сканирующей головки83 mm | Совместимые источники светаCW, Pulsed >25 kHz | Соответствие CEYes |
Описание
Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
Сканирующая щелевая система профилирования NS2s-Si/9/5-STD (арт. PH00457) с апертурой 9 мм точно улавливает и анализирует длины волн от 190 до 1100 нм с помощью кремниевого детектора. Он имеет размер щели 5,0 мкм, подходящий для небольших лучей, скорость сбора данных практически в реальном времени, дополнительную функцию измерения мощности и работает в непрерывном или импульсном режимах, что делает его идеальным для комплексного лазерного анализа. В комплект входит программное обеспечение NanoScan Standard.
Технические характеристики Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 190–1100 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan
Характеристики
| Диапазон мощности | 10 nW - 10 W |
|---|---|
| Коммуникация | USB 2.0 |
| Программное обеспечение | NanoScan Standard |
| Размер диафрагмы | 9 mm |
| Размер луча | 20 µm - 6 mm |
| Размер разреза | 5 µm |
| Размер сканирующей головки | 83 mm |
| Совместимые источники света | CW, Pulsed >25 kHz |
| Соответствие CE | Yes |
| Соответствие UKCA | Yes |
| Соответствие требованиям RoHS Китая | Yes |
| Спектральный диапазон | 190-1100 nm |
| Тип датчика | Silicon |
