Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, NanoScan Pro

Профилометр сканирующего щелевого луча NanoScan Pro — это высокоточный прибор для измерения микрорельефа поверхности. Он оснащён щелевым лучом диаметром 9 мм и щелью 5 мкм, что позволяет получать детализированные данные о поверхности в диапазоне длин волн 700–1800 нм.

Прибор подключается к компьютеру через USB 2.0, что обеспечивает быструю передачу данных и удобное управление. NanoScan Pro идеально подходит для научных исследований, производства и контроля качества в различных отраслях.

Основные характеристики:

• диаметр щелевого луча: 9 мм;


• ширина щели: 5 мкм;


• диапазон длин волн: 700–1800 нм;


• интерфейс: USB 2.0.

  Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø9 мм, щель 5 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, NanoScan Pro

  Сканирующая щелевая система профилирования NS2s-Ge/9/5-PRO (номер по каталогу PH00468) с апертурой 9 мм точно улавливает и анализирует длины волн от 700 до 1800 нм с помощью германиевого детектора. Он имеет размер щели 5,0 мкм, подходящий для небольших лучей, скорость сбора данных практически в реальном времени, дополнительную функцию измерения мощности и работает в непрерывном или импульсном режимах, что делает его идеальным для комплексного лазерного анализа. Программное обеспечение NanoScan Pro включено.