Диапазон мощности10-1000 W | Калибровка измерителя мощностиNIST traceable calibration ±3% | Минимальный размер пятна34.5 µm |
наименование товараBeamPeek | Профилирование лучаISO 11146 Measurements | Соответствие CEYes |
Соответствие UKCAYes | Соответствие требованиям RoHS КитаяYes | Спектральный диапазон532 nm, 1030-1080 nm |
Система анализа и измерения мощности мощного лазерного луча BeamPeek™
Система BeamPeek™ позволяет в режиме реального времени анализировать профиль луча, включая мониторинг размера и положения фокусного пятна, а также измерение каустики луча и мощности лазеров аддитивного производства (АМ) в зеленом и ближнем ИК-диапазоне. Он отслеживает, как эти параметры изменяются со временем, что помогает поддерживать качество и повторяемость производимых деталей. BeamPeek™ объединяет в себе камеру для профилирования лазерного луча, измеритель мощности, устройство сброса луча, светоделители и оптику, обеспечивая комплексное решение для лазерного анализа аддитивного производства в промышленной среде.
Программное обеспечение BeamPeek™ специально разработано с учетом потребностей выездных технических специалистов в сфере аддитивного производства. Он может измерять основные параметры аддитивного производства с минимальным вмешательством пользователя.
BeamPeek позволяет проводить непрерывные измерения в течение 2 минут при мощности 1 кВт с пассивным охлаждением, без необходимости использования вентилятора или водяного/воздушного охлаждения через сменный картридж для сброса луча. Его промышленный дизайн позволяет легко интегрировать его в производственные линии и выполнять анализ свойств лазера без вмешательства в производственный процесс.
- Размер фокусного пятна
- Положение фокусного пятна откалибровано для построения плоскости
- Мощность лазера
- Плотность мощности лазера
- Изменения размера пятна и мощности с течением времени
- м²
- Длина Рэлея
- Дивергенция
- Расположение талии
- Ширина талии Посмотреть все функции
Диапазон мощности | 10-1000 W |
---|---|
Калибровка измерителя мощности | NIST traceable calibration ±3% |
Минимальный размер пятна | 34.5 µm |
наименование товара | BeamPeek |
Профилирование луча | ISO 11146 Measurements |
Соответствие CE | Yes |
Соответствие UKCA | Yes |
Соответствие требованиям RoHS Китая | Yes |
Спектральный диапазон | 532 nm, 1030-1080 nm |
Фокусное расстояние | 150-800 mm |