НаноСкан 2с Ge/3,5/1,8

НаноСкан 2с Ge/3,5/1,8

«НаноСкан 2с Ge/3,5/1,8» — это инновационное устройство, предназначенное для проведения наноскопии. Оно позволяет получать высокоточные изображения поверхности материалов на атомном уровне.

Основные характеристики:

• модель: «НаноСкан 2с»;


• материалы: Ge/3,5/1,8;


• точность измерений: высокая.

«НаноСкан 2с Ge/3,5/1,8» находит применение в различных областях, включая материаловедение, электронику и нанотехнологии. С его помощью можно исследовать структуру и свойства материалов, а также разрабатывать новые материалы с заданными характеристиками.

Приобретите «НаноСкан 2с Ge/3,5/1,8» и откройте новые горизонты в области нанотехнологий!

Эта сканирующая щелевая система профилирования NanoScan точно захватывает и анализирует длину волны от 700 до 1800 нм с помощью германиевого детектора. Ее характеристики: размер апертуры, подходящий для маленьких пучков; скорость захвата данных, приближающаяся к первому времени; дополнительная возможность повышения производительности; работа в режиме непрерывного преобразования или килогерцевом импульсном режиме. Благодаря этим характеристикам она идеально подходит для выполнения комплексного анализа лазеров ИК- и ближнего ИК-диапазона.

• Размеры пучка: от 7 мкм до приближения. 2,3 мм
• Уровень мощности: от приближения. 10 нВт до приблиз. 10 Вт
• Интерфейс USB 2.0
• В комплект поставки программного обеспечения входит программное обеспечение NanoScan или профессиональная версия.
Посмотреть все функции