
-
0.00р.
-
0.00р.
-
0.00р.
-
0.00р.
-
0.00р.
-
-
-
На складе Код товара: ESXFE8 Система отбора проб луча, двойная поверхность, 2 куба BK7, 1064 нм
0.00р.
-
-
На складе Код товара: 2JTU7Q Система отбора проб пучка, C-образное крепление, 9–11 мкм, 0,4–100 Вт
0.00р.
-
На складе Код товара: Z5QA5Y Система отбора проб пучка, C-образное крепление, 9–11 мкм, 50–1000 Вт
0.00р.
-
На складе Код товара: F2OR3B Система отбора проб пучка, двойная поверхность, 2 куба UVFS, 400–700 нм
0.00р.
-
На складе Код товара: NJB5TS Система отбора проб пучка, одноповерхностная, 1 куб UVFS, 400–700 нм
0.00р.
-
На складе Код товара: RLMRRR Система профилирования балок для аддитивного производства BeamCheck™
0.00р.
-