Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

Наш профилометр — это высокоточное устройство для измерения микрорельефа поверхности. Он оснащён сканирующим щелевым лучом с диаметром 3,5 мм и щелью 1,8 мкм, что позволяет получать детализированные данные о поверхности в диапазоне от 700 до 1800 нм. Устройство поддерживает интерфейс USB 2.0 и соответствует стандарту NanoScan, обеспечивая надёжное и быстрое подключение к компьютеру.

Этот профилометр идеально подходит для научных исследований, разработки новых материалов и контроля качества продукции в различных отраслях промышленности. Он поможет вам получить точные измерения и улучшить производственные процессы.

Приобретите наш профилометр и обеспечьте себе преимущество в точных измерениях поверхностей!

Профилометр сканирующего щелевого луча, Ø3,5 мм, щель 1,8 мкм, 700–1800 нм, USB 2.0, стандарт NanoScan

Сканирующая щелевая система профилирования NS2s-Ge/3.5/1.8-STD (номер по каталогу PH00459) с апертурой 3,5 мм точно улавливает и анализирует длины волн от 700 до 1800 нм с помощью германиевого детектора. Он имеет размер щели 1,8 мкм, подходящий для небольших лучей, скорость сбора данных практически в реальном времени, дополнительную функцию измерения мощности и работает в непрерывном или импульсном режимах, что делает его идеальным для комплексного лазерного анализа. В комплект входит программное обеспечение NanoScan Standard.