Широколучевой имидж-сканер, Ø45 мм, 350-1100 нм

Широколучевой имидж-сканер, Ø45 мм, 350–1100 нм — это высокоточное устройство для неразрушающего контроля и анализа поверхностей различных материалов. Благодаря широкому диапазону длин волн (350–1100 нм) сканер обеспечивает высокую чувствительность и разрешение, позволяя обнаруживать дефекты и неоднородности на микроуровне.

Основные характеристики:

• диаметр луча: 45 мм;


• диапазон длин волн: 350–1100 нм.

Широколучевой имидж-сканер находит широкое применение в различных отраслях, включая машиностроение, авиационную и космическую промышленность, медицину и научные исследования. Он помогает повысить качество продукции, оптимизировать производственные процессы и обеспечить безопасность эксплуатации оборудования.

Инвестируйте в широколучевой имидж-сканер и обеспечьте своему бизнесу преимущество в области контроля качества и диагностики материалов!

Широколучевой имидж-сканер, Ø45 мм, 350-1100 нм

Устройство формирования изображений с широким лучом SP90612 позволяет измерять размер и распределение мощности расходящегося луча и луча большого диаметра, исходящего от таких источников, как светодиоды, VCSEL, а также параллельных лучей большого диаметра. В нем используется рассеивающая пластина, на которую попадает луч источника света. Рассеиватель имеет прозрачное отверстие диаметром 45 мм, на которое проецируется лазерный луч или источник света.

WB-I продается без камеры. К комплексному решению, включающему программное обеспечение для визуализации и анализа BeamGage Professional, можно добавить камеру высокого разрешения.